許多掃描電鏡都配備了可旋轉和傾斜的樣品臺。這些功能對于樣品的觀察和分析非常有用，因為它們允許在不同方向上查看樣品表面，并以不同的角度觀察樣品的微觀結構。以下是關于SEM樣品臺旋轉和傾斜的一些關鍵信息：

樣品臺旋轉： SEM通常具有樣品臺旋轉功能，允許用戶將樣品在水平平面上旋轉。這對于查看樣品的不同部分或獲得多個視角的圖像非常有用。旋轉功能通常通過SEM操作軟件或控制面板進行控制。

樣品臺傾斜： SEM還通常具有樣品臺傾斜功能，允許用戶將樣品臺在垂直平面上傾斜。這對于觀察樣品的側面、斜面或不同角度的特征非常重要。傾斜功能也可通過SEM操作軟件或控制面板進行控制。

觀察角度： 樣品臺的旋轉和傾斜功能可以使用戶在不同的觀察角度下獲得樣品的高分辨率圖像。這對于分析樣品表面的微觀結構、紋理、顆粒分布等信息非常有用。

分析應用： 旋轉和傾斜功能在SEM的各種應用中非常重要，包括材料科學、生命科學、納米技術、地質學、半導體制造等。在這些領域中，用戶需要查看樣品的不同方面以獲取更全的信息。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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