低加速電壓成像是掃描電子顯微鏡（SEM）中的一種重要技術(shù)，用于獲得樣品表面的高分辨率圖像，同時(shí)減少電子束對(duì)樣品的損傷。以下是如何在掃描電鏡中實(shí)現(xiàn)低加速電壓成像的步驟和注意事項(xiàng)：

1. 選擇適當(dāng)?shù)募铀匐妷?/span>

定義：加速電壓是指在電子槍中加速電子的電壓。低加速電壓通常在1-5 kV之間，相比高加速電壓（10-30 kV），電子的穿透深度更淺，更適合觀察樣品的表面結(jié)構(gòu)。

選擇依據(jù)：根據(jù)樣品的特性（如導(dǎo)電性、表面細(xì)節(jié)要求等）選擇適當(dāng)?shù)募铀匐妷骸＠?，?duì)于非導(dǎo)電樣品或希望減少表面損傷的樣品，較低的加速電壓是理想選擇。

2. 樣品準(zhǔn)備

導(dǎo)電涂層：低加速電壓成像時(shí)，電子束的能量較低，容易導(dǎo)致非導(dǎo)電樣品表面積累電荷，從而產(chǎn)生充電效應(yīng)。因此，非導(dǎo)電樣品通常需要涂覆一層導(dǎo)電材料（如金、碳）以防止充電。

清潔：確保樣品表面清潔，無(wú)任何污染物或顆粒，以避免影響圖像質(zhì)量。

3. 優(yōu)化探測(cè)器設(shè)置

使用背散射電子探測(cè)器（BSE）：低加速電壓下，二次電子的能量較低，因此可以使用背散射電子探測(cè)器來(lái)提高信噪比。這種探測(cè)器對(duì)樣品成分和原子序數(shù)差異較為敏感，能夠獲得較好的圖像對(duì)比度。

調(diào)整探測(cè)器增益：為了在低加速電壓下獲得清晰圖像，可以適當(dāng)增加探測(cè)器的增益，以提高信號(hào)的強(qiáng)度。

4. 降低束流強(qiáng)度

減少束流電流：在低加速電壓下，電子束對(duì)樣品的穿透力較弱，因此應(yīng)降低束流電流以減少樣品的充電效應(yīng)和電子束損傷。

小束斑尺寸：選擇較小的束斑尺寸可以提高圖像分辨率，適合觀察微細(xì)結(jié)構(gòu)。

5. 優(yōu)化工作距離

較短的工作距離：在低加速電壓成像中，使用較短的工作距離（樣品到物鏡的距離）可以提高圖像的分辨率。這是因?yàn)槎坦ぷ骶嚯x能夠減少電子束的散射，從而獲得更清晰的圖像。

調(diào)整景深：低加速電壓下，景深較淺，因此在調(diào)整工作距離時(shí)需要權(quán)衡景深和分辨率之間的關(guān)系。

6. 控制環(huán)境條件

真空度控制：確保SEM腔室內(nèi)的真空度足夠高，避免因氣體分子與電子束的相互作用導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降。

減少振動(dòng)：由于低加速電壓下電子束能量較低，樣品或設(shè)備的微小振動(dòng)都可能影響圖像的穩(wěn)定性。因此，應(yīng)盡量減少環(huán)境中的振動(dòng)源。

7. 使用圖像處理技術(shù)

實(shí)時(shí)去噪：在低加速電壓下，圖像可能會(huì)出現(xiàn)噪聲增加的情況?？梢允褂肧EM的實(shí)時(shí)去噪功能或在成像后進(jìn)行圖像處理，以提升圖像質(zhì)量。

疊加多次掃描：通過(guò)多次掃描疊加的方式，可以減少噪聲并提高圖像的信噪比。

8. 減少充電效應(yīng)

選擇適當(dāng)?shù)恼婵漳Ｊ剑簩?duì)于非導(dǎo)電樣品，可以選擇低真空模式（也稱為環(huán)境掃描電鏡，ESEM）以減少充電效應(yīng)。在這種模式下，樣品周圍存在一定的氣體，能夠中和電子束帶來(lái)的表面電荷。

使用充電抑制模式：一些SEM設(shè)備具備充電抑制模式，能夠通過(guò)優(yōu)化電子束的掃描方式或使用中和電子束來(lái)減少樣品表面的電荷積累。

9. 調(diào)整電子光學(xué)系統(tǒng)

優(yōu)化聚焦：低加速電壓下的電子束能量較低，容易散焦，因此需要仔細(xì)調(diào)整物鏡和聚焦電壓，確保圖像清晰。

電子光學(xué)校準(zhǔn)：確保SEM的電子光學(xué)系統(tǒng)（如消色差電磁透鏡）的校準(zhǔn)良好，以避免低加速電壓下的圖像畸變。

以上就是澤攸科技小編分享的如何在掃描電鏡中實(shí)現(xiàn)低加速電壓成像。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢15756003283(微信同號(hào))。