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掃描電鏡的加速電壓如何影響圖像質量？

掃描電鏡（SEM）的加速電壓是指加速電子束的能量。加速電壓的選擇會直接影響SEM圖像的質量和特性。

定量分析掃描電鏡圖像可以提供關于樣品表面特征的定量信息，如顆粒大小、紋理分布、孔隙度等。

掃描電鏡（SEM）是一種常用于觀察表面形貌和拓撲的強大工具。

在實驗中避免樣品桿引起的誤差是確保獲得準確和可靠結果的關鍵步驟之一。

透射電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可用于觀察樣品的內部結構和微觀特征。

樣品桿是質譜儀中用于將氣體樣品引入質譜儀分析室的一個組件。

在掃描電鏡成像中，樣品偽影是一種可能出現的問題，它可能導致圖像中出現不真實的特征或失真。

在掃描電鏡成像過程中，像差是指由于透鏡系統(tǒng)的非完美性或電子光束的特性而引起的圖像失真或模糊。