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如何避免和糾正SEM圖像中的偽影和畸變？

在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中，偽影（artifacts）和畸變（distortions）可能會(huì)對(duì)圖像的解釋和分析造成困擾。

掃描電子顯微鏡（SEM）在生物樣品研究中廣泛應(yīng)用，但為了在SEM中觀察生物樣品，需要對(duì)樣品進(jìn)行適當(dāng)?shù)闹苽洹?/p>

在制備掃描電鏡樣品時(shí)，避免樣品損傷和表面污染是非常重要的，因?yàn)檫@些因素可能會(huì)影響到掃描電鏡圖像質(zhì)量和解釋。

臺(tái)式掃描電鏡（SEM）的成像時(shí)間取決于多種因素，包括所選的放大倍數(shù)、掃描區(qū)域大小、樣本的性質(zhì)以及成像參數(shù)的設(shè)置。

臺(tái)式掃描電鏡（SEM）通常有多種數(shù)據(jù)輸出方式，這些方式可以用于保存、分析和共享成像數(shù)據(jù)。

調(diào)整臺(tái)式掃描電鏡的成像參數(shù)是確保獲得高質(zhì)量圖像的重要步驟。

獲取和處理掃描電鏡圖像涉及以下步驟：

掃描電鏡和透射電鏡是兩種不同類型的顯微鏡，都用于觀察微觀結(jié)構(gòu)，但它們的工作原理、成像方式以及適用范圍有很大的不同。