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掃描電鏡圖像中的偽影是如何產(chǎn)生的

掃描電鏡圖像中的偽影可能由于多種因素導(dǎo)致，這些因素包括樣本準備、電鏡操作、圖像獲取和處理等。

掃描電鏡（SEM）通常用于獲取高分辨率的表面形貌圖像，但它本身并不提供深度信息。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，次級電子圖像是通過探測樣品表面產(chǎn)生的次級電子而獲得的圖像。

掃描電鏡（SEM）是一種利用電子束來觀察樣品表面微觀結(jié)構(gòu)的儀器。

樣品的選擇對掃描電鏡（SEM）成像有著重要的影響，因為不同的樣品特性和性質(zhì)需要不同的處理和準備方法。

掃描電子顯微鏡（是一種利用電子束替代光子束來實現(xiàn)高分辨率成像的顯微鏡。

提高掃描電鏡的空間分辨率涉及多個因素，以下是一些可能的方法：

掃描電鏡的分辨率與工作距離之間存在關(guān)系。工作距離是指從電子槍到樣品表面的距離，它可以影響電子束的焦距和散焦度，從而影響成像的分辨率。