掃描電鏡（SEM）成像在某些情況下可能受到樣品尺寸和形狀的限制，尤其是在一些特殊的樣品幾何條件下。以下是一些可能影響掃描電鏡成像的因素：

樣品尺寸：

小樣品： 對于非導電性的小樣品，可能需要更高的電子束能量，這可能導致較大的充電效應。此外，小樣品的信號可能較弱，需要更長的采集時間來獲得清晰的圖像。

大樣品： 對于大型樣品，可能需要在掃描過程中移動樣品或使用多個掃描區(qū)域來獲得整個樣品的圖像。

樣品形狀：

凹陷和孔洞： 凹陷或孔洞的樣品表面可能難以獲得均勻的電子信號，導致圖像中的陰影和失真。在一些情況下，可能需要采用更高的放大倍數(shù)來觀察這些特征。

不規(guī)則形狀： 不規(guī)則形狀的樣品可能需要更復雜的取向角度和多個掃描區(qū)域，以獲取全貌圖像。一些樣品可能需要傾斜觀察，使用特殊的樣品支架或樣品制備技術。

導電性： 非導電性樣品可能更容易發(fā)生充電效應。在這種情況下，可能需要使用導電性涂層或其他電導材料來減小充電效應。

樣品制備： 樣品的制備過程對于SEM成像至關重要。厚度不均勻的涂層、表面粗糙度、殘留的固體或液體等因素都可能影響圖像質(zhì)量。

ZEM20臺式掃描電鏡

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