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掃描電鏡中的探針和探頭是什么？

在掃描電鏡（SEM）中，探針和探頭是兩個不同的概念，它們用于描述電子束與樣品之間的相互作用。

掃描電鏡（SEM）是一種常用于觀察材料表面形貌和進行元素組成分析的儀器。

6月15日，澤攸科技被Nature系列期刊全文報道：《Nanotech start-up story : Making versatile electron microscope tools》，成為中國首家獲得此殊榮的科學儀器公司。

掃描電鏡（SEM）分析和傳統(tǒng)顯微鏡觀察在原理和觀察能力上存在一些區(qū)別。以下是它們之間的主要區(qū)別：

準備樣品進行掃描電鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）分析需要經(jīng)過一系列步驟。

在臺式掃描電鏡（SEM）的樣品準備過程中，有幾個關(guān)鍵因素需要注意。

臺式掃描電鏡（SEM）的價格范圍和購買成本是由多個因素決定的。

掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）是兩種常用的電子顯微鏡技術(shù)，它們在工作原理、應用范圍和圖像獲取方式上存在顯著區(qū)別。