新聞資訊開拓創(chuàng)新，高端品質，真摯服務

銅陵市委書記丁純一行蒞臨澤攸科技調研考察

11月29日上午，銅陵市委書記丁純前往安徽澤攸科技有限公司開展人才工作專題調研，市領導鄭剛、馬軍、楊文萍，市經開區(qū)黨工委書記及管委會主任古勁松等領導陪同參加。

掃描電鏡（SEM）和傳統(tǒng)光學顯微鏡在原理、分辨率、樣品類型以及應用方面有一些顯著的區(qū)別：

掃描電鏡（SEM）圖像的解釋和分析涉及到對圖像中細微結構和特征的理解。

掃描電鏡（SEM）在樣品方面有一些要求和限制，這些因素可以影響成像質量和分析的可行性。

掃描電鏡中的能譜分析，也稱為EDS，是一種用于分析材料成分的技術。

掃描電鏡通常對樣品本身不會引起磨損和疲勞。SEM是一種非侵入性的表征技術，通過照射樣品表面并測量反射、散射或發(fā)射的電子來獲取圖像，不會對樣品造成直接的物理影響。

掃描電鏡圖像的獲取時間取決于多個因素，包括樣品的性質、所需的圖像分辨率、電子束的能量、以及所使用的儀器的性能等。

在使用掃描電子顯微鏡（SEM）時，可能會遇到一些常見的操作問題。