透射電子探測器是一種用于掃描透射電子顯微鏡的探測器。在TEM中，電子束通過樣本而不是被樣本反射，從而形成高分辨率的顯微圖像。TED的作用是測量透射電子的強度，從而獲得關于樣本內(nèi)部結構的信息。

以下是透射電子探測器的工作原理：

透射電子產(chǎn)生： 在TEM中，電子束從電子槍發(fā)射并經(jīng)過一系列透鏡來聚焦，形成一個非常細的電子束。這個電子束通過樣本，與樣本中的原子和電子相互作用。

透射過程：透射電子探測器位于樣本的下方，沿著電子束的路徑。在樣本內(nèi)部，電子束與原子核和電子云發(fā)生相互作用，其中一部分電子會被散射，而另一部分電子會通過樣本，即透射電子。

電子探測：TED位于樣本下方的探測器會探測通過樣本的透射電子。當透射電子通過探測器時，會引起電子探測器中的探測器元件產(chǎn)生電信號。

信號放大：探測器中的電信號會被放大，以便更好地分析。

信號處理：放大后的信號會被轉換為數(shù)字信號，并通過計算機進行處理和記錄。

圖像重建：透過對樣本的掃描，電子探測器收集到的信號被用于重建圖像。電子顯微鏡的軟件會根據(jù)信號的強弱來形成樣本內(nèi)部的圖像，其中亮度和暗度反映了樣本內(nèi)不同區(qū)域的不同特性。

TED允許科學家和研究人員在原子尺度上觀察和分析樣本的內(nèi)部結構。透射電子顯微鏡結合了高分辨率的成像和化學分析功能，因此在材料科學、生物學、納米技術等領域中有廣泛的應用。

ZEM18臺式掃描電鏡

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