掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）和透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）都是電子顯微鏡的類型，它們的主要區(qū)別在于電子束的傳輸方式和成像方式。

SEM中的電子束通過一系列電磁透鏡被聚焦到樣品表面，樣品與電子束相互作用產(chǎn)生的信號被檢測和處理，形成圖像。SEM常用于表面形貌分析、元素分析等領域。

而TEM中的電子束通過樣品透過薄片，被聚焦到一個透明的熒光屏或攝像機上，樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的透射像被捕捉并形成圖像。TEM常用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)，如晶體結(jié)構(gòu)、生物分子等。

臺式掃描電鏡

總的來說，SEM適用于觀察大體積樣品表面形貌和表面成分分析，TEM則適用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和成分分析。

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