新聞資訊開拓創(chuàng)新，高端品質(zhì)，真摯服務(wù)

如何在掃描電鏡中進行聚焦和調(diào)整對比度

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中進行聚焦和調(diào)整對比度是獲得高質(zhì)量圖像的關(guān)鍵步驟。

選擇合適的掃描模式和放大倍率對于使用掃描電子顯微鏡（SEM）獲得高質(zhì)量圖像和數(shù)據(jù)至關(guān)重要。

2024年7月19-23日，“2024年度北京市電子顯微學研討會暨第十三屆全國實驗室科學管理交流會”將在遼寧省丹東市舉行。

在使用掃描電子顯微鏡（SEM）時，樣品充電效應(yīng)是一個常見問題，特別是在觀察非導(dǎo)電材料時。

掃描電子顯微鏡（SEM）?本身主要用于表面形貌的高分辨成像，但它可以結(jié)合其他分析技術(shù)來進行成分分析。

掃描電鏡?樣品臺無法移動或傾斜可能是由于機械、電氣或軟件方面的問題引起的。

選擇合適的掃描模式和放大倍率對于獲得高質(zhì)量的掃描電鏡（SEM）?圖像至關(guān)重要。

ZEM系列臺式掃描電鏡的使用為研究提供了重要的視覺證據(jù)，幫助研究人員理解PLT如何影響材料的表面特性，這些特性的變化直接關(guān)聯(lián)到材料的光學和電物理性能。